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平整度是晶片很重要的參數(shù),直接決定了片子合格與否,檢測(cè)平整度的方法很多,但目前看來國際還是依托于SEMI標(biāo)準(zhǔn)。參數(shù)的定義,檢測(cè)的精度都是需要認(rèn)真考慮的。