SD-300i用于測定藍寶石的表面缺陷,適用于科研、工業(yè)生產(chǎn)等需求。該儀器還是一臺半自動高精度定向儀,實現(xiàn)了缺陷和定向雙功能。
藍寶石晶片表面缺陷測試儀-產(chǎn)品特點:
■ 缺陷和定向雙功能
■ 配有射線窗口電磁光閘和可靠的射線防護罩,確保安全使用
■ 表格和曲線的形式顯示,一目了然
■ 速度快,重復(fù)性好
■ 效率高,數(shù)據(jù)實時處理
藍寶石晶片表面缺陷測試儀-技術(shù)參數(shù):
■ 測試時間:1-2分鐘
■ 重復(fù)性精度:≤±5″。
■ 測角精度為±15″
■ 最小讀數(shù)1″
藍寶石晶片表面缺陷測試儀-典型客戶:
臺灣及國內(nèi)藍寶石及半導(dǎo)體客戶廣泛應(yīng)用。
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